パターン投影方式3次元計測装置

3次元計測装置

■高速・高精度・広視野  3D計測

光パターンを照射し、カメラ撮像情報から測定物の3次元計測を行います。本方式は、高速に計測が行える特徴がありますが、 更に独自の計測アルゴリズムと高度なキャリブレーションノウハウによって、従来にない高精度な計測ができます。また視点を変えた複数ユニットを用い、計測データを合成することが可能で、高速高精度でかつ広視野の計測が可能です。